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场发射扫描电子显微镜

【仪器简介】场发射扫描电子显微镜--在金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料等材料科学研究领域对各种材料进行形貌组织观察、成分分析、材料断口分析和失效分析、材料

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 【仪器简介】场发射扫描电子显微镜--在金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料等材料科学研究领域对各种材料进行形貌组织观察、成分分析、材料断口分析和失效分析、材料实时微区成分分析、元素定量、定性成分分析;快速的多元素面扫描和线扫描分布测量,晶体、晶粒的相鉴定,晶粒尺寸、形状分析,晶体、晶粒取向测量。

【仪器型号】∑IGMA(配有能谱仪)

【生产厂商】德国卡尔蔡司

【主要技术指标】1、放大倍数10-100万倍,高分辨率1.2nm@15kv 2.2nm@1kv

2加速电压:0.5kv~30kv;INCA能谱仪:Si(LI)探测器,80mm活区,分辨率(MnKa):127ev,分析元素:4-92号元素

【应用范围】广泛地应用于金属材料(钢铁、冶金、有色、机械加工拜口非金属材料(化学、化工、石油、地质矿物学、橡胶、纺织、水泥、玻璃纤维)等检验和研究。

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